詳細摘要: JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡,應用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術,標配了TTLS系統(Through...
產品型號:所在地:更新時間:2023-10-15 在線留言深圳市藍星宇電子科技有限公司
詳細摘要: JSM-7200F 熱場發射掃描電子顯微鏡,應用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術,標配了TTLS系統(Through...
產品型號:所在地:更新時間:2023-10-15 在線留言詳細摘要: 日本JEOL JSM-IT500 掃描電子顯微鏡,是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業...
產品型號:所在地:更新時間:2023-10-13 在線留言詳細摘要: JSM-7610FPlus 熱場發射掃描電子顯微鏡,實現了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升,采用半浸沒式物鏡和High Power O...
產品型號:所在地:更新時間:2023-10-11 在線留言詳細摘要: JSM-7900F 熱場發射掃描電子顯微鏡,它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩定性、多種功能等的同時,操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的技能...
產品型號:所在地:更新時間:2023-10-09 在線留言詳細摘要: Serial Block-face SEM 3View 發射掃描電子顯微鏡,肖特基場發射掃描電子顯微鏡能長時間穩定地提供高電流下的微細探針,與3View2XP(...
產品型號:所在地:更新時間:2023-10-07 在線留言詳細摘要: 日本JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡,采用了新開發的高亮度電子槍和透鏡系統,因而能獲得令人驚嘆的高畫質圖像。即使對實時圖像,也能輕松地在CCD圖...
產品型號:所在地:更新時間:2023-10-05 在線留言詳細摘要: JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡,是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。
產品型號:所在地:更新時間:2023-10-03 在線留言詳細摘要: JCM-7000 NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡,是以誰都可以操作的SEM/EDS為理念的臺式掃描電子顯微鏡, 標配Zeromag、Live analys...
產品型號:所在地:更新時間:2023-10-01 在線留言詳細摘要: 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡,實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發的球差校正器,...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-29 在線留言詳細摘要: JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡,以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-27 在線留言詳細摘要: 日本電子JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡,不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統,還增加了的控制系統,大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JE...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-25 在線留言詳細摘要: JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發射電子槍(FEG)和鏡筒內置式型能量過濾器,能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-23 在線留言詳細摘要: JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統以及光學顯微鏡圖像的聯動功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-21 在線留言詳細摘要: JEM-Z200FSC 場發射冷凍電子顯微鏡發,標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(能量過濾器)、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統。新設計的能量過濾器與...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-19 在線留言詳細摘要: JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡,標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-17 在線留言詳細摘要: 場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM 300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-13 在線留言詳細摘要: 德國Zeiss SIGMA 300 場發射電子顯微鏡,Gemini鏡筒,超高的束流穩定性,的低電壓性能,In Lens 探測器,磁性材料高分辨觀察,X射線分析設...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-09 在線留言詳細摘要: JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡,由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短,即使增大物鏡極靴之間的間隙,也能獲得高分辨率的圖像。此外,電子束具有...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-07 在線留言詳細摘要: JSM-7610FPlus,用于納米科學的肖特基場發射掃描電子顯微鏡, 是一款采用半浸沒式物鏡、擁有超高分辨率的場發射掃描電子顯微鏡,能觀察微細結構和進行微區元...
產品型號:所在地:更新時間:2023-09-05 在線留言詳細摘要: 布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)設計創新,實現了更高的重復性和分辨率,垂直高度重復性高達 5。第十代 DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓...
產品型號:所在地:更新時間:2023-06-05 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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